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颗粒碰撞噪声检测仪(SD PIND)

美国Spectral Dynamics, Inc.是专业提供全球领先的振动测试、结构动态和声学分析的系统和软件的公司,其产品广泛应用于各类电子和机械类产品的设计开发、品质测试和程序改进。

颗粒碰撞噪声检测仪(SD PIND)用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的多余粒子,是一种非破坏性实验。

颗粒碰撞噪声检测仪适用范围:用于检测集成电路、继电器、半导体分立器件、光电器件等电子元器件封装内的多余物松散颗粒,即PIND试验。

双面声藕合胶片和声藕合专用胶水是专门用于颗粒碰撞噪声检测仪实验时使用的。

颗粒碰撞检测仪主要技术性能指标符合标准:MIL-STD883E, MIL-STD750, MIL-STD39016和国军标GJB-548A微电子器件试验2020GJB-128A半导体分立器件试验方法2052

技术指标:

    型 号:4511L4511L-R

    组 成:控制仪、振动台、示波器、传感器等

    最大载荷:400g25Hz~250Hz)、500g60Hz

    冲击加速度:100g~3000g100g~800g

    振动频率:25Hz~250Hz

    振动加速度:0.1g~25.5g

    噪声传感器灵敏度:-77.5±3DBDrelv1bar,155kHz

    外形尺寸(高××深):主机250mm×650mm×450mm